產品圖片產品名稱型號產品概述
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- 水稻整穗考種儀
- TPDS-X-1 plus
水稻整穗考種儀采用先進的圖像處理技術，根據深度學習算法綜合設計的一款軟件。該設備主要應用在水稻室內考種時期，對水稻穗粒數、一/二次枝梗數量和長度測量，為水稻形態學的研究、水稻良種選育提供良好的檢測工具。 廣泛適用于各農科院、高校、育種公司、種子站的水稻研究。
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- 水稻表型檢測系統
- TPS-BX-1
水稻表型檢測系統可測量水稻株高、夾角、莖粗、水稻畝穗數、理論產量、水稻穗粒數、一/二次枝梗數量和長度、各枝梗穗粒數、著粒密度、穗長、總粒數和千粒重等指標。
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- 小麥表型檢測系統
- TPM-BX-1
小麥表型檢測系統可測量小麥株高、夾角、莖粗、小麥畝穗數、理論產量、穗長、小穗數、總粒數和千粒重等指標。
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- 玉米表型檢測系統
- TPY-BX-1
玉米表型檢測系統可以測量凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側視角緊湊度、側視角投影面積、株高、莖稈節間距和莖粗、葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和千粒重等指標。
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- 大豆表型檢測儀
- TPD-BX-1
大豆表型檢測儀可以測量大豆夾角、莖粗、總粒數和千粒重等指標，這些高通量表型參數為大豆品種篩選、產量預測、基因定位、功能解析等方面發揮著至關重要的作用。
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- 千粒重儀
- V2.0
千粒重儀利用圖像識別、圖像分割、圖像處理等技術，能夠檢測種子形狀，自動計算種子考種分析中種子粒數和千粒重，可測量計數所有常見種子，包括玉米，水稻，小麥，大豆，油菜籽，花生，芝麻，綠豆，紅豆，草籽等。
